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• PowDeR/Projects/MIUR PRIN 2003
  ...F. Rampazzo, G. Meneghesso, E. Zanoni, J. Bernat, M. Marso, P. Kordos, A. Basile, G. Verzellesi, ...PIEROBON, F. RAMPAZZO, G. TAMIAZZO, E. ZANONI, J. BERNAT, P. KORDOS, A.F. BASILE, CHINI A., AND G. VERZELLESI, HOT ELECTRON STRESS DEGRADATION IN UNPASSIVAT
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• PowDeR/Projects/GaNFET - MIUR PRIN 2003
  ...F. Rampazzo, G. Meneghesso, E. Zanoni, J. Bernat, M. Marso, P. Kordos, A. Basile, G. Verzellesi, “Experimental and simulated gate lag transients in unpass ...PIEROBON, F. RAMPAZZO, G. TAMIAZZO, E. ZANONI, J. BERNAT, P. KORDOS, A.F. BASILE, CHINI A., AND G. VERZELLESI, HOT ELECTRON STRESS DEGRADATION IN UNPASSIVAT
  8 KB (1,121 words) - 12:02, 20 May 2008
• PowDeR/Publications
  #VERZELLESI G., BASILE A.F., CAVALLINI A., CASTALDINI A., CHINI A., CANALI C. (2005). Light Sensit ...PIEROBON, F. RAMPAZZO, G. TAMIAZZO, E. ZANONI, J. BERNAT, P. KORDOS, A.F. BASILE, CHINI A., AND G. VERZELLESI. (2005). HOT ELECTRON STRESS DEGRADATION IN UN
  40 KB (5,479 words) - 15:04, 22 May 2008
• Alessandro Chini
  #G. VERZELLESI, BASILE A.F., A. CAVALLINI, A. CASTALDINI, A. CHINI, C. CANALI, "Light Sensitivity
  10 KB (1,358 words) - 08:25, 5 April 2016