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• PowDeR
  ...azioneIngegneria/Insegnamento.asp?IdInsegnamento=6194 Elettronica B (Prof. Fantini)] ...dInsegnamento=6510 Affidabilità di Componenti e Sistemi Elettronici (Prof. Fantini)]
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• PowDeR - Power devices, Detectors, Reliability
  '''Prof. Fausto Fantini'''<br> email: [mailto:fantini.fausto@unimore.it fantini.fausto@unimore.it]<br>
  1 KB (146 words) - 12:04, 27 April 2009
• PowDeR/Staff
  '''Fausto Fantini'''<br> email: [mailto:fantini.fausto@unimore.it fantini.fausto@unimore.it]<br>
  1 KB (214 words) - 16:41, 9 May 2008
• PowDeR - Power devices, Detectors and Reliability Group
  '''Fausto Fantini'''<br> email: [mailto:fantini.fausto@unimore.it fantini.fausto@unimore.it]<br>
  3 KB (477 words) - 15:57, 29 April 2008
• PowDeR:Publications
  #M. FAQIR, CHINI A., G. VERZELLESI, F. FANTINI, F. RAMPAZZO, G. MENEGHESSO, E. ZANONI, P. KORDOS. (2007). Analysis of High #M. FAQIR, VERZELLESI G., F. FANTINI, F. DANESIN, F. RAMPAZZO, G. MENEGHESSO, E. ZANONI, A. CAVALLINI, A. CASTAL
  7 KB (993 words) - 11:31, 17 April 2008
• Ricerca
  ...ca.unimore.it Micro- and Nano-Electronics Group] - Referenti: Prof. Fausto Fantini, Prof. Paolo Pavan, Prof. Mattia Borgarino, Prof. Alessandro Chini
  2 KB (248 words) - 16:11, 15 February 2016
• Michele ESPOSTO
  8) '''M. Esposto''', V. Di Lecce, M. Bonaiuti, F. Fantini, A. Chini, G. Verzellesi, S. De Guido, M. De Vittorio, A. Passaseo, "Influe 9) D. Saguatti, V. Di Lecce, '''M. Esposto''', A. Chini, F. Fantini, G. Verzellesi, S. Boulay, A. Bouloukou, B. Boudjelida, M. Missous, "Design
  9 KB (1,177 words) - 20:44, 14 January 2011
• Valerio Di Lecce
  '''[J4]''' A. Chini, '''V. Di Lecce''', F. Fantini, G. Meneghesso, and E. Zanoni, "[http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDeta '''[J2] V. Di Lecce''', M. Esposto, M. Bonaiuti, F. Fantini, G. Meneghesso, E. Zanoni, and A. Chini, "[http://link.springer.com/article
  12 KB (1,711 words) - 19:20, 7 November 2016
• Alessandro Chini
  #V. DI LECCE, M. ESPOSTO, M. BONAIUTI, G. MENEGHESSO, E. ZANONI, F. FANTINI, A. CHINI, “Experimental and simulated dc degradation of GaN HEMTs by mea #M. FAQIR, G. VERZELLESI, A. CHINI, F. FANTINI, F. DANESIN, G. MENEGHESSO, E. ZANONI, C. DUA, “Mechanisms of RF Current
  10 KB (1,358 words) - 08:25, 5 April 2016
• PowDeR/Publications
  #M. FAQIR, VERZELLESI G., F. FANTINI, A. CAVALLINI, A. CASTALDINI, F. DANESIN, G. MENEGHESSO, E. ZANONI. (2007). #M. FAQIR, CHINI A., G. VERZELLESI, F. FANTINI, F. RAMPAZZO, G. MENEGHESSO, E. ZANONI, P. KORDOS. (2007). Analysis of High
  40 KB (5,479 words) - 15:04, 22 May 2008
• Davide Saguatti
  [c1] '''D. Saguatti''', V. Di Lecce, M. Esposto, A. Chini, F. Fantini, G. Verzellesi, S. Boulay, A. Bouloukou, B. Boudjelida, M. Missous, “''De
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